Datum: 28.06.2017
|
Kategorie: Technologické postupy v SMT
Poškození integrovaných obvodů (IO) vlivem elektrostatického výboje
Vlivem elektrostatického výboje může docházet k různým typům poškození integrovaných obvodů. Nejčastějším následkem poškození je zvětšený svodový proud (leakage) nebo zkrat některých vstupních a výstupních pinů. Dalšími poruchami jsou nadměrný napájecí proud, funkční poruchy nebo občas i odpojené vývody. Selhání integrovaných obvodů jde těžko odhalit. Výjimkou může být poškození pinů, které se zjišťuje měřením voltampérových charakteristik. Skryté vady mohou ovlivnit spolehlivost a životnost zařízení.